上海益朗儀器有限公司一直致力于為PCB 廠(chǎng)商，電鍍行業(yè)，科研機構，半導體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。讓客戶(hù)滿(mǎn)意，為客戶(hù)創(chuàng )造Z大的價(jià)值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶(hù)的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！
臺式β射線(xiàn)涂鍍層測厚儀
鍍層和涂層測厚儀
＊beta射線(xiàn)反向散射測量技術(shù)
＊依照標準ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準則
＊應用在測量許多經(jīng)典結構的鍍層厚度，包括鎳上鍍金（Au/Ni）,環(huán)氧樹(shù)脂鍍銅（Cu/epoxy），光致抗蝕劑photoresist，銅上鍍銀（Ag/Cu），科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar，鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe，錫鉛合金Sn-Pb。
＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應技術(shù)測量銅上鍍鎳（Ni/Cu）的厚度。
＊探頭系統可以用于精確測量各種樣品表面，從小零件（連接器和端子）到大零件（印制線(xiàn)路板）。
l Micro-Derm BBS厚度標準片（4點(diǎn)設定）包括：純材料的底材，表面鍍層的純材料無(wú)限厚片和兩塊經(jīng)過(guò)NIST（美國聯(lián)邦標準技術(shù)委員會(huì )）認證的標準厚度的薄片。
l 高質(zhì)量的制造技術(shù)確保盡可能精確的鍍層厚度測量。
l 設計體現了無(wú)與倫比的易操作性和高效率。
融合了beta射線(xiàn)反向散射和霍爾效應測量技術(shù)。避免了因為存在兩種需要而購買(mǎi)了兩種儀器的麻煩。
＊緊湊的設計
＊全面的測量能力
＊經(jīng)濟的X射線(xiàn)熒光分析儀器的替代品
＊提高生產(chǎn)量
＊45種標準檔案記憶允許用戶(hù)快速的進(jìn)行應用轉換。
＊獨特的NOVRAM 設計使得即使在備用電源斷電時(shí)仍可以保留有價(jià)值的校準檔案。
＊標準校準模式：4點(diǎn)，3點(diǎn)，2點(diǎn)，線(xiàn)性，多點(diǎn)和Sn-Pb.
＊特殊的多點(diǎn)Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進(jìn)行自動(dòng)補償和修正。
＊新的3點(diǎn)BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。
＊多點(diǎn)校正模式應用于霍爾效應測量（測量鎳厚）。
